JTAG-тестирование и JTAG-тестопригодное проектирование встроенных систем

В докладе пойдет речь о тестировании при помощи JTAG.
JTAG – система внутрисхемного тестирования печатных плат, основанная на технологии boundary scan (граничное сканирования). Данная технология позволяет проверить качество монтажа элементов схемы, наличие соединений между микросхемами, обрывы проводников, короткие замыкания. JTAG позволяет выполнять отладку устройства еще до поступления программного обеспечения, симулировать работу микросхем и процессоров, произвести их последующее программирование. На производстве при помощи JTAG выполняется QA тестирование устройств после сборки.
Технология предоставляет удаленный доступ к компонентам, что делает ее незаменимой при отладке систем с ограниченным доступом.
Доклад раскроет состав стандарта IEEE 1149.x, некоторые особенности подвидов стандарта, основы аппаратной реализации. Будут приведены примеры использования данной технологии, как при разработке высокотехнологичных продуктов так и при последующем производстве.

Презентация

Видео

Комментарии

{{comment.AuthorInfo}}
{{ comment.DateCreated | date: 'dd.MM.yyyy' }}
Заметили ошибку?